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J-GLOBAL ID：200903024688578533
光軸補正手段の特性検査装置及び特性検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992201393
Publication number (International publication number)：1994051364
Application date： Jul. 28, 1992
Publication date： Feb. 25, 1994
Summary：
【要約】【目的】 画像のぶれを光学的に補正する頂角可変プリズムの光軸補正量や周波数応答特性の諸特性を素早く簡単に検査することのできる装置および方法を提供すること。【構成】 光軸補正手段(可変頂角プリズム)を所定の位置に保持する保持手段、前記光軸補正手段の略光軸位置にビームを透過させる投光手段、透過されたビームを受光する受光手段、前記光軸補正手段の光軸可変用のアクチュエーターに所定の駆動信号を与える手段、該手段によって前記光軸補正手段が駆動された駆動量を検出する検出手段、を有し、前記光軸補正手段の諸特性の良否を検査すること。
Claim (excerpt)：
光軸補正手段を所定の位置に保持する保持手段、前記光軸補正手段の略光軸位置にビームを透過させる投光手段、透過されたビームを受光する受光手段、前記光軸補正手段の光軸可変用のアクチュエーターに所定の駆動信号を与える手段、該手段によって前記光軸補正手段が駆動された駆動量を検出する検出手段、を有し、前記光軸補正手段の特性の良否を検査する特性検査装置。
IPC (3)：
G03B 5/00
, G02B 27/64
, G03B 43/00
