画像処理方法およびその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴木由充
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001028804
Publication number (International publication number)：2002230549
Application date： Feb. 05, 2001
Publication date： Aug. 16, 2002
Summary：

【要約】【課題】計測処理を高速化するとともに、高精度の計測を行う。【解決手段】計測対象の濃淡画像が入力されると、制御部8は、この画像上において濃度勾配方向を示す角度データ(エッジコード)を抽出した後に、この抽出結果を示す処理結果画像上にモデル画像と同サイズのマスクを走査しつつ、各走査位置において、画素単位での不一致度を順に算出しつつ累計する。この累計処理において、所定のしきい値を越える不一致度が得られると累計処理は打ち切られるが、累計処理が終了した走査位置では、不一致度が前記しきい値を下回る場合にその不一致度によりしきい値が更新される。走査が終了すると、制御部8は、その時点でのしきい値に相当する不一致度が得られた走査位置をモデル画像に類似する輪郭パターンの位置として特定する。

Claim (excerpt)：

計測対象の濃淡画像上に所定のモデル画像上の濃度勾配方向を示すモデルデータを走査しつつ前記濃淡画像上の濃度勾配方向とモデルデータとを比較し、各走査位置における比較結果に基づき前記濃淡画像上において前記モデル画像に対応する画像領域を抽出する画像処理方法であって、前記モデルデータの各走査位置において、モデルデータに対する濃度勾配方向の不一致度を画素単位で順に算出しつつ累計するとともに、不一致度の累計結果が過去の走査位置で得られた最小の不一致度を上回ったときは累計処理を打ち切り、累計処理が完了した時点の不一致度が前記最小の不一致度を下回るときはその不一致度により最小の不一致度を更新し、前記モデルデータの走査が終了したとき、この時点での最小の不一致度が得られた走査位置により前記モデル画像に対応する画像領域を特定することを特徴とする画像処理方法。

IPC (3)：

G06T 7/00 300 , G06T 7/00 , G06T 7/00 250

FI (3)：

G06T 7/00 300 F , G06T 7/00 300 A , G06T 7/00 250

F-Term (8)：

5L096AA03 , 5L096AA06 , 5L096FA14 , 5L096GA02 , 5L096GA28 , 5L096HA08 , 5L096JA07 , 5L096JA11

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

画像処理方法および画像処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-132486 Applicant：シャープ株式会社, シャープマニファクチャリングシステム株式会社
類似度算出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-323808 Applicant：オムロン株式会社
画像処理装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-201039 Applicant：オムロン株式会社

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