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J-GLOBAL ID：200903024739244716

故障診断システム

Inventor： 駒井 研二
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 宮田 金雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003017001
Publication number (International publication number)：2003288231
Application date： Dec. 22, 1993
Publication date： Oct. 10, 2003
Summary：

【要約】【課題】 観測データと診断対象モデルとから診断対象の故障を診断する診断アルゴリズムが故障の仮説を生成し、これをシミュレーションし、その結果を観測データと比較して、シミュレーション結果と観測データとが矛盾しない故障の仮説を診断解とする故障診断システムでは、観測データに誤データの混入やデータ欠落がある場合、故障の仮説によるシミュレーション結果が観測結果と矛盾することになるため、正しい故障診断ができなかった。【解決手段】 観測データを編集する観測データ編修部と、そこで編集された編修後観測データとを備え、診断アルゴリズムに観測データまたは編修後観測データの内少なくとも一を入力するようにした。

Claim (excerpt)：

診断対象を表現する診断対象モデルと、診断対象からの観測データと、前記診断対象モデルと前記観測データを用いて診断対象の故障を診断する診断アルゴリズムを備え、該診断アルゴリズムが前記観測データから故障の仮説を生成し、該故障の仮説をシミュレーションしてその結果を前記観測データと比較して、前記シミュレーション結果と前記観測データとが矛盾しない前記故障の仮説を診断解とするものである故障診断システムにおいて、前記観測データを編集する観測データ編修部と、該観測データ編修部により編集された編修後観測データとを備え、前記診断アルゴリズムが前記観測データまたは前記編修後観測データの少なくとも一を入力にすることを特徴とする故障診断システム。

IPC (4)：

G06F 11/26 ,  G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302 ,  G06F 13/00 301

FI (4)：

G06F 11/26 ,  G05B 23/02 G ,  G05B 23/02 302 V ,  G06F 13/00 301 X

F-Term (10)：

5B048DD16 ,  5B083AA08 ,  5B083BB06 ,  5H223AA01 ,  5H223AA15 ,  5H223CC08 ,  5H223DD01 ,  5H223DD03 ,  5H223EE30 ,  5H223FF05

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-231279
  
• 特開平1-267742
  
• 特開平4-188307