Pat

J-GLOBAL ID：200903024886043467

光増幅器の雑音指数測定方法

Inventor： 式井 滋
Applicant, Patent owner： 沖電気工業株式会社
Agent (1)： 工藤 宣幸 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993189593
Publication number (International publication number)：1995043248
Application date： Jul. 30, 1993
Publication date： Feb. 14, 1995
Summary：

【要約】【目的】 光増幅器の出力段に狭帯域光フィルタを配置した場合の全体としての雑音指数を正確に得る。【構成】 光増幅器2に信号光を入射した場合の光増幅器からの出力光スペクトルを求め、また狭帯域光フィルタ(BPF)3の損失スペクトルを求める。これら2個のスペクトルとから、光増幅器に信号光を入射した場合のBPFからの出力光スペクトルを、その信号光スペクトル及び自然放出光スペクトルとを区別できるように求めて、雑音指数を得る。別な方法は以下の通りである。光増幅器に信号光を入射した場合のBPFからの出力光スペクトルを求め、またBPFの損失スペクトルを求める。BPFの損失スペクトルの曲線形状を利用して、光増幅器に信号光を入射した場合のBPFからの出力光スペクトルを、その信号光スペクトル及び自然放出光スペクトルとに分離して、雑音指数を得る。

Claim (excerpt)：

出力段に狭帯域光フィルタを有する光増幅器の全体としての雑音指数を測定する光増幅器の雑音指数測定方法において、上記光増幅器に信号光を入射した場合の上記光増幅器からの出力光スペクトルを求め、上記狭帯域光フィルタの損失スペクトルを求め、上記光増幅器からの出力光スペクトルと、上記狭帯域光フィルタの損失スペクトルとから、上記光増幅器に信号光を入射した場合の上記狭帯域光フィルタからの出力光スペクトルを、その信号光スペクトル及び自然放出光スペクトルとを区別できるように求めて、雑音指数を得ることを特徴とした光増幅器の雑音指数測定方法。

IPC (2)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/35 501