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J-GLOBAL ID：200903024886650592

構成要素の非破壊試験装置及び方法

Inventor： ゲオルク グロイアル ,  リク ファン アーク
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (1)： 杉村 興作 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000332015
Publication number (International publication number)：2001194346
Application date： Oct. 31, 2000
Publication date： Jul. 19, 2001
Summary：

【要約】【課題】 試験すべき構成要素の簡単且つ高信頼評価を提供する装置及び方法を提供することにある。【解決手段】 本発明は受動構成要素(1)の非破壊試験方法に関する。本発明の方法では、受動構成要素(1)の品質を試験するために電気試験信号を受動構成要素に供給し、アコースティックエミッションをマイクロフォン(4)により測定し得るように、測定された信号を評価ユニット(5)に供給する。

Claim (excerpt)：

電気試験信号を受けた構成要素によるアコースティックエミッションを測定し得ることを特徴とする構成要素の非破壊試験装置。

IPC (4)：

G01N 27/92 ,  G01N 29/14 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361

FI (4)：

G01N 27/92 E ,  G01N 29/14 ,  G01R 31/00 ,  H01G 13/00 361 C