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J-GLOBAL ID：200903024894141630

挙動解析装置、挙動解析方法、及びプログラム

Inventor： 永井 新吾
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 渡部 敏彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002365480
Publication number (International publication number)：2004199271
Application date： Dec. 17, 2002
Publication date： Jul. 15, 2004
Summary：

【課題】弾性構造物と粒子の挙動を簡単かつ精度よく解析することを可能にする。【解決手段】粒子に働く力を基に該粒子の変位を時間系列に沿って計算する(118)。またバネ-質点モデルに基づいて弾性構造物の弾性力を計算する(115)とともに、弾性構造物と粒子との間に働く作用力を計算する(116)。これらの算出された弾性力および作用力に基づき、弾性構造物を表す質点の変位を時間系列に沿って計算する(119)。前記算出された粒子の変位と前記算出された質点の変位とを基に、粒子と弾性構造物の挙動を表示する(120)。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

容器に内包された弾性構造物と粒子の挙動を解析する挙動解析装置において、 前記粒子に働く力を基に該粒子の変位を時間系列に沿って計算する粒子変位計算手段と、 バネ-質点モデルに基づいて前記弾性構造物の弾性力を計算する弾性力計算手段と、 前記弾性構造物と前記粒子との間に働く作用力を計算する作用力計算手段と、 前記弾性力計算手段によって算出された弾性力および前記作用力計算手段によって算出された作用力に基づき、前記弾性構造物を表す質点の変位を時間系列に沿って計算する質点変位計算手段と、 前記粒子変位計算手段によって算出された粒子の変位と前記質点変位計算手段によって算出された質点の変位とを基に、前記粒子と前記弾性構造物の挙動を表示する表示手段と を有することを特徴とする挙動解析装置。

IPC (2)：

G06F17/13 ,  G03G15/08

FI (2)：

G06F17/13 ,  G03G15/08 110

F-Term (5)：

2H077AB00 ,  2H077GA01 ,  5B056BB03 ,  5B056BB22 ,  5B056HH07