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J-GLOBAL ID：200903024924757983

試料パターン読み取り装置

Inventor： 藤宮 仁 ,  山本 顕次 ,  中村 義隆 ,  奈須 永典 ,  伊藤 敏明
Applicant, Patent owner： 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
Agent (1)： 南野 貞男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994085708
Publication number (International publication number)：1995271962
Application date： Mar. 31, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 平板状の試料から発光する微弱な発光パターンを読み取るための試料パターン読み取り装置を提供する。【構成】 平板状で発光する試料パターンを読み取る試料パターン読み取り装置において、読み取り対象の試料を載置するステージ手段と、前記試料パターンから発光する光を集光する集光手段と、前記ステージ手段と前記集光手段とを相対的に移動させる移動手段と、前記集光手段により集光された試料パターンの光を所定の区画に分割し、前記区画からの光を1次元状で選択的に受光する受光手段と、前記受光手段で受光した光信号を電気信号に変換するための光電変換手段と、前記光電変換手段からの電気信号をディジタル信号に変換し、1次元状で選択的に受光した区画の光信号から画像の再構成を行うデータ処理手段とを備える。

Claim (excerpt)：

平板状で発光する試料パターンを読み取る試料パターン読み取り装置において、読み取り対象の試料を載置するステージ手段と、前記試料パターンから発光する光を集光する集光手段と、前記ステージ手段と前記集光手段とを相対的に移動させる移動手段と、前記集光手段により集光された試料パターンの光を所定の区画に分割し、前記区画からの光を1次元状で選択的に受光する受光手段と、前記受光手段で受光した光信号を電気信号に変換するための光電変換手段と、前記光電変換手段からの電気信号をディジタル信号に変換し、1次元状で選択的に受光した区画の光信号から画像の再構成を行うデータ処理手段とを備えることを特徴とする試料パターン読み取り装置。

IPC (5)：

G06T 1/00 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/64 ,  G01N 27/447 ,  H04N 1/04

FI (3)：

G06F 15/64 B ,  G01N 27/26 325 A ,  H04N 1/04 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-223261
  
• 特開昭61-245762
  
• ナイロンメンブレン透明化方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-161653   Applicant：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社