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J-GLOBAL ID：200903024987747104
表面形状3次元計測方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 成示 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994148208
Publication number (International publication number)：1996014844
Application date： Jun. 29, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：
【要約】【目的】 物体の表面形状が実際の配置の通りに得られる表面形状3次元計測方法の提供。【構成】 計測対象物体の表面に対して斜め方向から投影した格子を別の角度から観察する変形格子投影法により複数の縞画像を得、該縞画像から縞走査法により形状データを求める表面形状3次元計測方法において、前記形状データを平面補正(平面補正の式:Z=a+bX+cY:a、b、cは変換パラメータ、X、Yは解析しようとする形状データの座標、Zは補正高さ)することにより計測対象物体の表面形状を求めるように構成した。
Claim (excerpt)：
計測対象物体の表面に対して斜め方向から投影した格子を別の角度から観察する変形格子投影法により複数の縞画像を得、該縞画像から縞走査法により形状データを求める表面形状3次元計測方法において、前記形状データを平面補正することにより計測対象物体の表面形状を求めることを特徴とする表面形状3次元計測方法。
Patent cited by the Patent：
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