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J-GLOBAL ID：200903024995606579

エスカレーターハンドレールの診断装置

Inventor：
山崎 浩

About 山崎 浩

, 
長沼 清

About 長沼 清


Applicant, Patent owner：
株式会社日立ビルシステム

About 株式会社日立ビルシステム


Agent (3)： 武 顕次郎 ,  小林 一夫 ,  鈴木 市郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003362252
Publication number (International publication number)：2005126175
Application date： Oct. 22, 2003
Publication date： May. 19, 2005
Summary：
【課題】ハンドレールの劣化の進行状況や寿命到達を定量的に提示可能なエスカレーターハンドレールの診断装置を提供する。【解決手段】ハンドレール内のスチールコード等の抗張体のX線透過画像1、2、3、4に対して、二次元FFT処理を実施し、前記二次元FFT処理画像11、21、31、41に対してハンドレールの特徴的な劣化状況に対して重み付けを行った判定マスク5を適用し、劣化度を定量的に算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
内部に金属などの抗張体を有するエスカレーターのハンドレールに対して、前記ハンドレールを透過するようにX線を発生するX線発生装置と、前記ハンドレールを透過してきたX線を画像として撮像する画像入力装置と、前記画像入力装置により得られたX線透過画像に従ってハンドレールの劣化状況を判別する画像処理装置とを備え、前記画像処理装置は、前記画像処理装置により撮像された前記ハンドレールのX線透過画像に対して二次元高速フーリエ変換処理を行う二次元高速フーリエ変換処理部と、前記二次元高速フーリエ変換部の処理結果に基づいて前記ハンドレールの前記抗張体の有無を判別する画像判定部とを設けることを特徴とする、エスカレーターハンドレールの診断装置。
IPC (2)：
B66B29/00 ,  G01N21/88
FI (2)：
B66B29/00 G ,  G01N21/88 Z
F-Term (9)：
2G051AA90 ,  2G051AB20 ,  2G051CA04 ,  2G051CB06 ,  2G051ED21 ,  3F321EA17 ,  3F321EB07 ,  3F321EC06 ,  3F321FB11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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