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J-GLOBAL ID：200903025014039129

質量分析装置

Inventor： 松井 真由美
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007141274
Publication number (International publication number)：2008298427
Application date： May. 29, 2007
Publication date： Dec. 11, 2008
Summary：

【課題】取得したマススペクトルに基づいて自動的に適切なピークを選択してプリカーサイオンとしてMS2分析を実行する場合に、信号強度が低いイオンのMS2分析の順番が来るまでに該当成分の溶出が終了してしまい十分なMS2スペクトルが得られない場合がある。【解決手段】マススペクトルのピーク選別条件として、信号強度の下限値LLとともに上限値ULを指定可能とする。データ処理部は、LCMS分析中に得られたマススペクトルに現れるピークのピーク強度が上限値ULと下限値LLとで決まる強度範囲Athに入っているか否かを判定し、入らないピークは除外し、残ったピークについて例えば強度順にプリカーサイオンに設定してMS2分析を実行する。上限値ULを適切に設定することで、MS2分析が不要な高強度成分を避けて低濃度の成分のMS2分析を優先的に行うことができる。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

MSn-1分析(nは2以上の整数)で得られるMSn-1スペクトルデータに基づいて1乃至複数のプリカーサイオンを決定し、該プリカーサイオンを開裂させてMSn分析を行う質量分析装置において、 a)MSn-1スペクトルについての信号強度の上限値及び下限値、又は上限と下限とを境界とする強度範囲をユーザが入力設定するための設定手段と、 b)取得されたMSn-1スペクトルに現れるピークの中で、そのピーク強度が前記上限値及び下限値で決まる又は直接入力設定される強度範囲に収まるようなピークを選別するピーク選別手段と、 c)前記ピーク選別手段により選別されたピークに対応した質量を持つイオンをプリカーサイオンとしてMSn分析を行うべく分析の制御を行う分析制御手段と、 を備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (2)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (4)：

G01N27/62 E ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 X ,  H01J49/26

F-Term (28)：

2G041AA06 ,  2G041CA01 ,  2G041DA05 ,  2G041DA09 ,  2G041DA18 ,  2G041DA19 ,  2G041EA04 ,  2G041EA06 ,  2G041GA04 ,  2G041GA06 ,  2G041GA07 ,  2G041GA08 ,  2G041GA09 ,  2G041GA10 ,  2G041GA13 ,  2G041GA19 ,  2G041GA20 ,  2G041GA22 ,  2G041GA24 ,  2G041GA29 ,  2G041HA01 ,  2G041KA01 ,  2G041LA01 ,  2G041LA08 ,  2G041MA05 ,  5C038HH03 ,  5C038HH16 ,  5C038HH30