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J-GLOBAL ID：200903025124360291

金属中の微量ヘリウム測定方法

Inventor： 長野 早実 ,  山口 洋一郎 ,  武田 泰弘
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社 ,  ニユークリア・デベロップメント株式会社
Agent (1)： 真田 有
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999211253
Publication number (International publication number)：2001033437
Application date： Jul. 26, 1999
Publication date： Feb. 09, 2001
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、金属中の微量ヘリウム測定方法に関し、ヘリウム以外の共存ガスによる測定妨害や希釈作用を回避できるようにするとともに、定量下限の向上を図るようにする。【解決手段】 試料金属を加熱して試料ガスを発生させ、該試料ガスを採取バッグに捕集した後、該試料ガスを冷却するよう吸着管に通して不純物を除去し、ヘリウムリーク検出器に導入してヘリウムを測定する。

Claim (excerpt)：

試料金属を加熱して試料ガスを発生させ、該試料ガスを採取バッグに捕集した後、該試料ガスを吸着管に通して該試料ガスを冷却することにより不純物を除去し、ヘリウムリーク検出器に導入してヘリウムを測定することを特徴とする、金属中の微量ヘリウム測定方法。

IPC (5)：

G01N 33/20 ,  G01N 1/22 ,  G01N 1/34 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/00

FI (6)：

G01N 33/20 J ,  G01N 1/22 U ,  G01N 1/34 ,  G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 30/00 E

F-Term (6)：

2G055AA01 ,  2G055BA01 ,  2G055CA30 ,  2G055DA22 ,  2G055EA10 ,  2G055FA05