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J-GLOBAL ID：200903025142932960

画像評価方法及びその装置並びにこれを用いた画像形成装置

Inventor： 大橋 慎一
Applicant, Patent owner： 富士ゼロックス株式会社
Agent (1)： 小泉 雅裕 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995248855
Publication number (International publication number)：1997068830
Application date： Sep. 01, 1995
Publication date： Mar. 11, 1997
Summary：

【要約】【課題】 画像の細線部の再現性を簡単且つ正確に評価する。【解決手段】 レーザフォーカス変位計2と、レーザフォーカス変位計2と画像支持体1との相対距離を一定に保ちながら、レーザフォーカス変位計2若しくは画像支持体1上の画像Gを画像幅mよりも十分細かいピッチpで画像幅m方向に沿って移動走査する可動ステージ3と、この可動ステージ3の移動走査に伴うレーザフォーカス変位計2の各走査点に対応する画像G表面位置に関する測定結果に基づいて画像Gの断面プロファイルを算出する断面プロファイル算出手段4とを備え、必要に応じて断面プロファイル描画手段5を設ける。また、評価パターン生成手段6にてテストプリントモード時にテストプリントの一部に画像再現性評価パターンPTを生成し、画像形成条件調整手段7にて画像再現性評価パターンPTに対する評価結果に基づいて画像形成条件を自動調整する。

Claim (excerpt)：

粉体現像剤を使用して可視像化された画像(G)を評価する画像評価方法において、画像支持体(1)上の画像(G)を画像幅(m)よりも十分に細かいピッチ(p)の光ビーム(Bm)で画像幅(m)方向に沿って走査し、各走査点毎の光ビーム(Bm)状態を測定することにより各走査点毎の画像(G)表面位置を測定する画像表面測定工程(A)と、この画像表面測定工程(A)による測定結果に基づいて画像(G)の断面プロファイルを算出する断面プロファイル算出工程(B)とを備えたことを特徴とする画像評価方法。

IPC (2)：

G03G 15/00 303 ,  G01B 11/24

FI (2)：

G03G 15/00 303 ,  G01B 11/24 F