Pat
J-GLOBAL ID：200903025314102744
トンネル内形状計測装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
前田 弘 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000064435
Publication number (International publication number)：2001255144
Application date： Mar. 09, 2000
Publication date： Sep. 21, 2001
Summary：
【要約】【課題】 光学式測距手段を用いてトンネルHの内形状を計測するにあたって、該トンネルHの内形状を把握するために必要かつ十分な座標データを自動的にかつできるだけ短い時間で取得できるようにする。【解決手段】 回転式測距機2を自動回転ステージ3上に支持し、水平方向の回転軸線βの周りを周回するようにパルス光を投光させる。該投光方向が回転軸線βの周りに所定回数、周回する毎に、該測距機2を鉛直軸線αの周りに回動させる。測距機2が約180度の角度範囲に亘って回動する間、該測距機2により所定期間毎に測定点Pまでの距離を測定して、計測装置Aの周囲の略全ての方向について、トンネルH内壁上の多数の測定点Pの座標データを計測する。予め、仮想のトンネルモデルhの内壁上で互いに所定間隔が空くように設定した複数の測定目標点Ptの座標データを準備し、測定点Pの座標データのうちから、該設定目標点の近傍のものだけを選択する。
Claim (excerpt)：
トンネル内に設置して、その内形状を計測するための計測装置であって、トンネルの内壁に向かってパルス光を投光し、その投光方向に沿って戻ってきた反射光を検出して、該パルス光の往復時間に基づいて測定点までの距離を求める光学式測距手段と、前記測距手段によるパルス光の投光方向を、予め設定した回転軸線の周りを周回するように変化させる投光方向可変手段と、前記投光方向可変手段による投光方向の回転変位量を検出する回転変位検出手段と、前記測距手段を、前記回転軸線の方向が該回転軸線に直交する直交軸線の周りに変化するように回動させる回動手段と、前記回動手段による測距手段の回動変位量を検出する回動変位検出手段と、前記測距手段を所定期間毎に作動させる測距制御手段と、前記投光方向が回転軸線の周りに少なくとも1周、変化する間に、前記測距手段が直交軸線の周りに所定角度だけ回動するように、前記投光方向可変手段及び回動手段をそれぞれ作動させる作動制御手段と、前記測距手段の作動に対応するように該測距手段、回転変位検出手段及び回動変位検出手段からの信号をそれぞれ入力し、該各信号値に基づいてトンネル内壁上の各測定点の座標を演算する演算手段とを備えていることを特徴とするトンネル内形状計測装置。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (19)：
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC40
, 2F065DD06
, 2F065FF12
, 2F065FF17
, 2F065FF66
, 2F065GG06
, 2F065HH18
, 2F065LL12
, 2F065LL22
, 2F065MM06
, 2F065PP01
, 2F065QQ00
, 2F065QQ31
, 2F065RR03
, 2F065SS02
, 2F065SS13
