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J-GLOBAL ID：200903025338910795

変位測定装置

Inventor：
山本 裕之

About 山本 裕之


Applicant, Patent owner：
横河電機株式会社

About 横河電機株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000055857
Publication number (International publication number)：2001241919
Application date： Mar. 01, 2000
Publication date： Sep. 07, 2001
Summary：
【要約】【課題】 測定対象を限定することなく非接触で高速に高精度の測定が行える比較的安価な変位測定装置を提供すること。【解決手段】 測定対象の基準位置の基準画像データを格納する第1の記憶部と、測定対象の測定位置の測定画像データを格納する第2の記憶部と、これら基準画像データと測定画像データに共通する注目部分を抽出比較して基準画像と測定画像のずれ量を求め、測定対象の変位量を算出する信号処理部、とで構成されたことを特徴とするもの。
Claim (excerpt)：
測定対象の基準位置の基準画像データを格納する第1の記憶部と、測定対象の測定位置の測定画像データを格納する第2の記憶部と、これら基準画像データと測定画像データに共通する注目部分を抽出比較して基準画像と測定画像のずれ量を求め、測定対象の変位量を算出する信号処理部、とで構成されたことを特徴とする変位測定装置。
IPC (2)：
G01B 11/00 ,  G01D 5/30
FI (2)：
G01B 11/00 H ,  G01D 5/30 P
F-Term (37)：
2F065AA02 ,  2F065AA07 ,  2F065AA09 ,  2F065AA39 ,  2F065BB03 ,  2F065BB13 ,  2F065BB15 ,  2F065BB16 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF18 ,  2F065FF19 ,  2F065FF42 ,  2F065GG01 ,  2F065JJ02 ,  2F065JJ25 ,  2F065LL30 ,  2F065MM03 ,  2F065MM04 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR05 ,  2F103BA37 ,  2F103CA03 ,  2F103DA01 ,  2F103DA04 ,  2F103EA03 ,  2F103EA15 ,  2F103EB01 ,  2F103EB11 ,  2F103ED11 ,  2F103ED27 ,  2F103ED28
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (9)
  • 特開昭62-170803
  • 特開平1-320412
  • 特開昭60-209104
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