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J-GLOBAL ID:200903025449563652
テスト要素用定量的分析評価システム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
朝日奈 宗太 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997534026
Publication number (International publication number):2000507353
Application date: Mar. 22, 1997
Publication date: Jun. 13, 2000
Summary:
【要約】本発明は、テスト要素を位置決めするテスト要素ホルダ、試料添加ゾーンおよび検出ゾーンを有するテスト要素、照射装置、センサアレー、変換器、デジタル信号を評価するために評価ユニットおよび評価結果を表示する表示装置からなるテスト要素の位置分析定量評価システムに関する。
Claim (excerpt):
a)テスト要素を位置決めするテスト要素用ホルダ、 b)分析物に特異的に結合する標識物質を含む試料添加ゾーンと、分析物と標識物質から形成される複合体を固定化するために使用される領域を含む検出ゾーンとを有するテスト要素、 c)テスト要素の検出ゾーンに光を照射する照射装置、 d)一つの面に複数のセンサが配置されているか、または複数のセンサが一列に配置され、その線状アレーを移動装置によってセンサの列に対して横方向に移動させながら面を走査するかのいずれかのセンサアレー、 e)アナログセンサ信号をデジタル信号に変換するための変換器、 f)分析物の濃度を決定するためにデジタル信号を評価する評価ユニット、 g)評価結果を表示するための表示装置 からなるテスト要素の位置定量分析評価システム。
IPC (3):
G01N 33/543 521
, G01N 21/78
, G01N 33/543 595
FI (3):
G01N 33/543 521
, G01N 21/78 B
, G01N 33/543 595
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