非破壊検査装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：越場隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994182883
Publication number (International publication number)：1995077516
Application date： Jul. 12, 1994
Publication date： Mar. 20, 1995
Summary：

【要約】【構成】磁気的に安定した検査領域を画成する磁気遮蔽容器4と、磁気遮蔽容器4により画成された検査領域内の磁界変動を検出するSQUIDを用いた磁気センサ3とを備え、この検査領域内を移動する被検査物1に含まれる異物または欠陥を、被検査物1を破壊することなく検出できる。

Claim (excerpt)：

磁気的に安定した検査領域を画成する磁気遮蔽容器と、該磁気遮蔽容器により画成された検査領域内の磁界変動をSQUIDを用いて検出する磁気センサとを備え、該検査領域内で移動する被検査物により生じる磁界の変動を検出して、該被検査物に含まれる異物または欠陥を検出するように構成されていることを特徴とする非破壊検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開平2-006760
特開平3-037563
特開平1-245149

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