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J-GLOBAL ID：200903025553354208

光学的に表面の球面近似性を測定するための方法および装置

Inventor： 今道正次
Applicant, Patent owner： 株式会社サンコンタクトレンズ
Agent (1)： 新実 健郎 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993350623
Publication number (International publication number)：1995184860
Application date： Dec. 27, 1993
Publication date： Jul. 25, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】対象物の表面の球面近似性の程度を、アナログ的に測定することができる方法および装置を提供する。【構成】対象物の表面にリング状光源から光が照射される(ブロック1)。対象物の表面からのリング状光源の反射像が撮像手段によって検出され、撮像手段からの映像信号はディジタル画像データに変換され(ブロック2)、画像データはメモリに記憶される(ブロック3)。画像データに基づいて、リング状光源の反射像の中心が検出され(ブロック4)、リング状光源の反射像の画像を検出された中心のまわりに90°回転した画像が生成される(ブロック5)。リング状光源の反射像の画像と90°回転した画像が合成され、ディスプレイ画面上に表示される(ブロック6)。

Claim (excerpt)：

対象物の表面にリング状光源から光を照射するステップと、前記対象物の表面からの前記リング状光源の反射像を撮像手段によって検出し、前記撮像手段からの映像信号をディジタル画像データに変換するステップと、前記画像データをメモリに記憶させるステップと、前記画像データに基づいて、前記リング状光源の反射像の中心を検出するステップと、前記画像データに基づいて、前記リング状光源の反射像の画像を前記検出した中心のまわりに90°回転した画像を生成するステップと、前記前記リング状光源の反射像の画像と前記90°回転した画像を合成してディスプレイ画面上に表示するステップを有していることを特徴とする光学的に表面の球面近似性を測定するための方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭63-043640
  
• 特公昭63-051692
  
• 特公昭63-051693