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J-GLOBAL ID：200903025558559789

検査対象物の表面傷検出装置及び方法

Inventor： 安本 雅昭 ,  谷口 慶治 ,  中嶋 庸泰
Applicant, Patent owner： 株式会社不二越 ,  谷口 慶治
Agent (1)： 河内 潤二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995018777
Publication number (International publication number)：1996193959
Application date： Jan. 12, 1995
Publication date： Jul. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】 輝度ヒストグラムを使用した画像処理装置を用いた検査対象物の表面傷検出装置において、小さな傷も含めた傷の判定を確実に行うことができるようにする。【構成】 画像データの画素毎の輝度レベルを計測する輝度計測部(6)と、画素毎の輝度レベルを画素データとして記録する画像メモリ部(7)と、輝度レベルの範囲を予め設定し記憶する複数の輝度設定部(12、13、14)と、画像メモリ部より入力された画素データのうち複数の輝度設定部のそれぞれに記憶された輝度レベルの範囲内にある画素数を算出する複数の輝度計数部(9、10、11)と、複数の輝度計数部の各々において算出された画素数を基に検査対象物の表面傷の有無を判定する判定部(15)を有する。

Claim (excerpt)：

カメラ等から入力された画像の輝度レベルの分布から検査対象物の表面傷の検出を行う画像処理装置を用いた検査対象物の表面傷検出装置において、アナログの画像データを出力するカメラにより撮影された検査対象物画像を入力するカメラ入力端子と、前記検査対象物画像をデジタルの画像データに変換するA/D変換器と、該デジタルの画像データの画素毎の輝度レベルを計測する輝度計測部と、該画素毎の輝度レベルを画素データとして記録する画像メモリ部と、輝度レベルの範囲を予め設定し記憶する複数の輝度設定部と、前記画像メモリ部より入力された画素データのうち前記複数の輝度設定部のそれぞれに記憶された輝度レベルの範囲内にある画素数を算出する複数の輝度計数部と、該複数の輝度計数部の各々において算出された画素数を基に前記検査対象物の表面傷の有無を判定しかつ判定結果を出力端子へ出力する判定部を有することを特徴とする検査対象物の表面傷検出装置。

IPC (2)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00