Pat
J-GLOBAL ID:200903025559162025
3次元形状計測方法、3次元形状計測装置、プログラム、および記録媒体
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (2):
秋田 収喜
, 近野 恵一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003112495
Publication number (International publication number):2004317332
Application date: Apr. 17, 2003
Publication date: Nov. 11, 2004
Summary:
【課題】撮影物体の3次元形状の計測において、対応点マッチング処理を必要としない距離の抽出を行うことによって対応点マッチングに起因して発生する誤計測の問題を解決する。【解決手段】所定の位置で撮影された第1の画像を入力する第1のステップと、前記所定の位置と水平方向に離れた位置から撮影された第2の画像を入力する第2のステップと、前記第1の画像と前記第2の画像の差分を求める第3のステップと、差分がない領域を遠景、差分がある領域およびその近傍領域を近景とする第4のステップとにより3次元形状計測を行う。これによってパッシブ型計測方法の利点を有しながら信頼性も高い3次元形状計測方法および3次元形状計測装置が提供できる。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
所定の位置で撮影された第1の画像を入力する第1のステップと、
前記所定の位置と水平方向に離れた位置から撮影された第2の画像を入力する第2のステップと、
前記第1の画像と前記第2の画像の差分を求める第3のステップと、
差分がない領域を遠景、差分がある領域およびその近傍領域を近景とする第4のステップと
を有することを特徴とする3次元形状計測方法。
IPC (3):
G01B11/24
, G06T1/00
, G06T7/60
FI (3):
G01B11/24 K
, G06T1/00 315
, G06T7/60 180B
F-Term (30):
2F065AA06
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065CC14
, 2F065DD02
, 2F065FF04
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ06
, 2F065QQ17
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2F065QQ34
, 2F065QQ42
, 2F065UU05
, 5B057BA02
, 5B057CA13
, 5B057CA16
, 5B057DA06
, 5B057DB03
, 5B057DC09
, 5B057DC32
, 5L096AA09
, 5L096CA05
, 5L096FA66
, 5L096GA08
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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