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J-GLOBAL ID：200903025581723073

外観検査装置

Inventor： 山田 慎治 ,  種田 規男 ,  棚村 真吾
Applicant, Patent owner： 鐘紡株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993186616
Publication number (International publication number)：1995019822
Application date： Jun. 29, 1993
Publication date： Jan. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 従来の光学センサによる検査対象物の死角例えばカプセル形状の両端曲面の先端に存在する変形欠陥等を、検査対象物の色に左右されることなく検出することが可能な外観検査装置を提供すること。【構成】 検査ライン上で検査対象物を移送せしめる搬送装置と該検査対象物の広域部分に存在する変形の存在を検出する光学センサを有する検査装置において、測定スポットを該検査ライン上の任意の部分に設定可能な変位センサ、該測定スポットと該変位センサの間の距離変化によって検査対象物の変形を検出する検出手段、前記光学センサによる検出結果と該変位センサによる検出結果との論理和により不良品の判別を行う判別手段を設けたことを特徴とする外観検査装置。

Claim (excerpt)：

検査ライン上で検査対象物を移送せしめる搬送装置と該検査対象物の広域部分に存在する変形の存在を検出する光学センサを有する検査装置において、測定スポットを該検査ライン上の任意の部分に設定可能な変位センサ、該測定スポットと該変位センサの間の距離変化によって検査対象物の変形を検出する検出手段、前記光学センサによる検出結果と該変位センサによる検出結果との論理和により不良品の判別を行う判別手段を設けたことを特徴とする外観検査装置。

IPC (2)：

G01B 11/14 ,  G01B 11/24

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭63-163259
  
• 特開昭63-193040