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J-GLOBAL ID：200903025589857850
可変ガンマ補正回路
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
山田 義人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992043876
Publication number (International publication number)：1993244460
Application date： Feb. 28, 1992
Publication date： Sep. 21, 1993
Summary：
【要約】【構成】 ゲイン算出回路18では、比較回路12によって判別される折れ線区間毎にCPUから設定されるパラメータShに基づいてゲインSi1-Si11を算出する。オフセット算出回路20は同じパラメータShから、各折れ線区間毎のオフセットSj1-Sj11を算出する。比較回路12によって入力信号Ssがどの折れ線区間に属するかが判別された後、選択回路14および16によってその区間に該当するゲインおよびオフセットがそれぞれ選択される。選択されたゲインSgが乗算回路19によって入力信号Ssと乗算され、この乗算回路19の出力に、選択されたオフセットSoが加算回路21で加算される。加算回路21からガンマ補正された信号Seが出力される。【効果】 ROMを用いず、しかも簡単な回路で、パラメータShを変更すればガンマ補正特性を変更できる。
Claim (excerpt)：
ガンマ補正曲線を複数の折れ線で近似する可変ガンマ補正回路であって、所望のガンマ補正曲線の補正係数に相関する1つのパラメータを与えるパラメータ付与手段、前記パラメータに基づいて前記複数の折れ線の各区間毎のゲインを算出するゲイン算出手段、前記パラメータに基づいて前記複数の折れ線の各区間毎のオフセットを算出するオフセット算出手段、入力信号が前記複数の折れ線のどの区間に属するか判別する判別手段、前記判別手段によって判別された区間に相当する前記ゲイン算出手段からのゲインを選択する第1選択手段、前記判別手段によって判別された区間に相当する前記オフセット算出手段からのオフセットを選択する第2選択手段、前記第1選択手段によって選択されたゲインを前記入力信号に乗算する乗算手段、および前記乗算手段の出力に前記第2選択手段で選択されたオフセットを加算する加算手段を備える、可変ガンマ補正回路。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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