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J-GLOBAL ID：200903025620460514
温度分布測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992147221
Publication number (International publication number)：1993340824
Application date： Jun. 08, 1992
Publication date： Dec. 24, 1993
Summary：
【要約】【目的】 測定精度が高い温度分布測定装置。【構成】 パルス光源14からの励起光は、カプラ12で等しいパワーで分岐された後、被温度測定領域で平行に延びるファイバ18、28にそれぞれ供給される。ファイバ18、28から戻ってきたストークス光及びアンチストークス光の強度比を、バックグラウンド成分を除いた信号強度比として時間領域ごとに求めることで、被温度測定領域の温度分布を求めることができる。この場合、ファイバ18から戻ってきたラマン後方散乱光のみならず、ファイバ28から戻ってきたラマン後方散乱光も検出することができるので、ディテクタ16の検出に十分な光量を確保することができ温度測定の精度を高めることができる。
Claim (excerpt)：
被温度測定領域に配設すべき一対の光ファイバと、前記一対の光ファイバに供給すべきパルス状の光を発生する光源装置と、前記光源装置からのパルス状の光を所定の比率で分岐して前記一対の光ファイバの各片端部に結合する分岐手段と、前記一対の光ファイバの各片端部に入射したパルス状の光の入射に応じて、前記一対の光ファイバの各片端部に戻ってきたラマン後方散乱光中のストークス光及びアンチストークス光の強度を個々に検出する検出手段と、を備える温度分布測定装置。
IPC (2)：
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