X線診断装置及び照射線量制御方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：外川英明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004006795
Publication number (International publication number)：2005198762
Application date： Jan. 14, 2004
Publication date： Jul. 28, 2005
Summary：

【課題】被検体におけるX線の照射線量が常に許容値以下に維持されるようにX線照射条件を制御することによって、被検体に対する照射障害を防止する。【解決手段】 X線発生部1、X線検出部2及び被検体150の位置情報と、前記X線発生部1に設けられた面積線量計17によって検出された面積線量に基づいて前記被検体150における照射線量を算出し、次いで、算出された前記照射線量と予め設定された許容照射線量との比較結果に基づいて、前記X線発生部1より放射されるX線の線量を自動的に制御する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検体に対してX線を照射するX線発生手段と、このX線発生手段によって照射され前記被検体を透過したX線を検出するX線検出手段と、このX線検出手段によって検出されたX線に基づいて前記被検体に対するX線画像データを生成する画像データ生成手段と、生成された前記X線画像データを表示する表示手段と、前記X線発生手段から放射されたX線の放射線量を検出する線量検出手段と、この線量検出手段によって検出された前記放射線量に基づいて前記被検体における照射線量を算出する照射線量算出手段と、この照射線量算出手段によって算出された前記照射線量と予め設定された許容照射線量との比較を行なう照射線量比較手段と、この照射線量比較手段によって得られた比較結果に基づいて前記X線発生手段によるX線の放射線量を制御する線量制御手段を備えたことを特徴とするX線診断装置。

IPC (1)：

A61B6/00

FI (1)：

A61B6/00 320Z

F-Term (10)：

4C093CA34 , 4C093EB02 , 4C093EB13 , 4C093EB17 , 4C093EB28 , 4C093EC16 , 4C093FA18 , 4C093FA52 , 4C093FA59 , 4C093FB12

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

X線診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-331442 Applicant：株式会社東芝

Cited by examiner (8)

特開昭50-153980
特開昭62-015800
特開昭55-124997

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