Pat

J-GLOBAL ID：200903025639936889

光断層イメージング装置

Inventor： 小田 元樹 ,  山下 豊 ,  太田 和義
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992062303
Publication number (International publication number)：1993261107
Application date： Mar. 18, 1992
Publication date： Oct. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】 生体の光断層イメージングを良好に行ない得る装置を提供する。【構成】 被検体に向けて少なくとも2波長のパルス光を投射する投光手段と、被検体を透過して当該被検体の所定位置から外部に出射したパルス光を選択的に検出する透過光検出手段と、前記被検体で反射されたパルス光を、投光手段による投光光軸と略同一軸上で検出する反射光検出手段と、透過光検出手段の出力にもとづき、パルス光の被検体への入射位置と透過光の出射した所定位置とを結ぶ線上およびその近傍における被検体内部の波長間吸光度差分布を求める内部情報演算手段と、反射光検出手段の出力にもとづき、パルス光が前記被検体表面に照射された空間的位置を求める外形情報演算手段と、パルス光が被検体の複数の位置に入射されたときの内部情報演算手段および外形情報演算手段のの演算出力を蓄積し、蓄積されたデータにもとづいて被検体の光断層イメージングを実行するイメージング手段とを備える。

Claim (excerpt)：

被検体に向けて少なくとも2波長のパルス光を投射する投光手段と、前記被検体を透過して当該被検体の所定位置から外部に出射した前記パルス光を選択的に検出する透過光検出手段と、前記被検体で反射された前記パルス光を、前記投光手段による投光光軸と略同一軸上で検出する反射光検出手段と、前記透過光検出手段の出力にもとづき、前記パルス光の前記被検体への入射位置と前記透過光の出射した所定位置とを結ぶ線上およびその近傍における前記被検体内部の波長間吸光度差分布を求める内部情報演算手段と、前記反射光検出手段の出力にもとづき、前記パルス光が前記被検体表面に照射された空間的位置を求める外形情報演算手段と、前記パルス光が前記被検体の複数の位置に入射されたときの前記内部情報演算手段および前記外形情報演算手段の演算出力を蓄積し、蓄積されたデータにもとづいて前記被検体の光断層イメージングを実行するイメージング手段とを備えることを特徴とする光断層イメージング装置。

IPC (3)：

A61B 10/00 ,  G01N 21/17 ,  G01N 21/47

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-054439
  
• 特開昭62-011484
  
• 特開昭63-304106
  
• 特開昭63-115548