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J-GLOBAL ID：200903025679045545

画像検査方法および画像検査装置

Inventor： 宇野 真彦 ,  村上 秀明 ,  山田 尚道 ,  火原 辰則
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 宮田 金雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997271459
Publication number (International publication number)：1999110560
Application date： Oct. 03, 1997
Publication date： Apr. 23, 1999
Summary：

【要約】【課題】 画像を用いた製品の傷や汚れの検査において、製品に規則的な模様等がある場合にも正確な検査を行う。【解決手段】 選択された領域内の部分画像データから輝度ヒストグラム等の1次画像特徴量と同時生起行列等の2次画像特徴量を計算し、それらの情報をデータ圧縮して組合わせた縮退特徴ベクトルを計算し、これをあらかじめ学習させておいた良品および不良品データと比較して良品、不良品の判別の判定を行う。

Claim (excerpt)：

対象物の映像信号から得られた濃淡画像の部分領域を選択し、前記選択された部分領域に対して輝度階調を圧縮した部分画像データを作成し、前記部分画像データに対して2次画像特徴量および1次画像特徴量を計算し、前記2次画像特徴量および1次画像特徴量をデータ圧縮してデータ量の少ない縮退特徴ベクトルを計算し、,前記縮退特徴ベクトルを、予め学習させておいた良品にもとずくデータまたはあらかじめ学習させておいた不良品にもとずくデータと比較してデータ間の近似度の指標である出力ベクトルを計算し、前記出力ベクトルを用いて対象物の良不良を判定することを特徴とする画像検査方法。

IPC (3)：

G06T 7/00 ,  G01N 21/88 ,  G09G 5/00 510

FI (3)：

G06F 15/62 410 Z ,  G01N 21/88 J ,  G09G 5/00 510 D