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J-GLOBAL ID：200903025698295420
顕微分光光度計
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992057779
Publication number (International publication number)：1993256765
Application date： Mar. 16, 1992
Publication date： Oct. 05, 1993
Summary：
【要約】【目的】積算平均してスペクトルのデータを得る測定について、試料の退色に基づくスペクトルの変化を検知し、退色する前のスペクトルのみについて積算平均を行うことにより、退色によるスペクトルへの影響を除去し測定の信頼性を高める。【構成】積算平均を行う際、初回の測定のスペクトルを基準(処理602)とし、二回目より各測定のスペクトルと基準スペクトルとを比較して(処理7)その変化量があらかじめ測定前に設定しておいた値より大きくなった時点で測定を中止し、励起光シャッターを閉じて試料への励起光照射を遮断した後(処理702)、スペクトルの変化量が設定値より小さいスペクトルについてのみ積算平均を行い(処理9)、測定結果および積算した回数を表示する(処理10)。
Claim (excerpt)：
複数回の測定で得られたスペクトルデータの積算平均機能を持つ顕微分光光度計において各測定ごとにスペクトル波形の変化を検出し、変化量が一定の大きさに達すると繰返し測定を中止しそこまでの測定データについて積算平均を行う機能を備えたことを特徴とする顕微分光光度計。
IPC (3)：
G01N 21/27
, G01N 21/64
, G02B 21/00
