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J-GLOBAL ID：200903025775966830

走査型レーザ顕微鏡

Inventor： 佐々木 浩 ,  中田 竜男
Applicant, Patent owner： オリンパス株式会社
Agent (2)： 上田 邦生 ,  藤田 考晴
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005232011
Publication number (International publication number)：2007047465
Application date： Aug. 10, 2005
Publication date： Feb. 22, 2007
Summary：

【課題】 光学部品の切り替えあるいは交換を行った際に生ずる観察用レーザ光と刺激用レーザ光との位置ずれの補正を容易に行うことを可能として精度の高い観察を行う。【解決手段】 観察用レーザ光L1を発する観察用レーザ光源2と、観察用レーザ光L1を、対物レンズ10を介して試料A上で2次元的に走査する第1の光走査装置3と、観察用レーザ光L1が照射された試料Aから発せられる光Fを検出する検出光学系12,13と、刺激用レーザ光L2を発する刺激用レーザ光源4と、刺激用レーザ光L2を、対物レンズ10を介して試料A上で2次元的に走査する第2の光走査装置5と、観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2により形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出手段14と、検出された観察用レーザ光L1および刺激用レーザ光L2のスポット光の位置を補正する補正手段15とを備える走査型レーザ顕微鏡1を提供する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

試料を励起する観察用レーザ光を発する観察用レーザ光源と、 該観察用レーザ光を、対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第1の光走査装置と、 前記観察用レーザ光が照射された試料から発せられる光を検出する検出光学系と、 試料に光刺激を与える刺激用レーザ光を発する刺激用レーザ光源と、 該刺激用レーザ光を、前記対物レンズを介して試料上で2次元的に走査する第2の光走査装置と、 前記観察用レーザ光および前記刺激用レーザ光により形成されるスポット光の位置を検出するスポット位置検出手段と、 該スポット位置検出手段により検出された観察用レーザ光および刺激用レーザ光のスポット光の位置を補正する補正手段とを備える走査型レーザ顕微鏡。

IPC (1)：

G02B 21/00

FI (1)：

G02B21/00

F-Term (17)：

2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AB24 ,  2H052AB25 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC14 ,  2H052AC15 ,  2H052AC26 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD32 ,  2H052AD34 ,  2H052AF02 ,  2H052AF06 ,  2H052AF14 ,  2H052AF21

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• レーザ走査顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-294107   Applicant：オリンパス光学工業株式会社

Cited by examiner (3)

• 走査型レーザ顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-238107   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 顕微測光装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-355402   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 光走査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-107733   Applicant：オリンパス光学工業株式会社