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J-GLOBAL ID：200903025812513891

自動分析装置

Inventor： 若竹 孝一
Applicant, Patent owner： 株式会社ニツテク
Agent (1)： 山口 哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991271671
Publication number (International publication number)：1993026883
Application date： Jul. 19, 1991
Publication date： Feb. 02, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 測定項目によっては分析処理数を2倍程度とし、かつ、分析処理時間を1/2程度することができる他、反応時間が長い測定項目にも対処することができる自動分析装置を得る。【構成】 所要数の反応容器5を保持する反応容器ホルダを、反応容器5をループ状に保持する同軸状に配設された2つの反応ラインで構成し、これらの各反応ラインに保持された反応容器5を、交換装置30,40を介して所定位置で相手の反応ラインへと移し換えるように構成すると共に、上記各反応ラインを、他方の反応ラインとは別個独立した駆動装置によって上記反応容器5を他方の反応ラインとは異なる態様で移送可能に駆動制御し、かつ、これら各反応ラインに保持された各反応容器5の呈色反応状態を1の光学測定装置7によって測定することを特徴とする自動分析装置A。

Claim (excerpt)：

所要数の反応容器を保持する反応容器ホルダを、反応容器をループ状に保持する同軸状に配設された2つの反応ラインで構成し、これらの各反応ラインに保持された反応容器を、交換装置を介して所定位置で相手の反応ラインへと移し換えるように構成すると共に、上記各反応ラインを、他方の反応ラインとは別個独立した駆動装置によって上記反応容器を他方の反応ラインとは異なる態様で移送可能に駆動制御し、かつ、これら各反応ラインに保持された各反応容器の呈色反応状態を1の光学測定装置によって測定することを特徴とする自動分析装置。

IPC (3)：

G01N 35/04 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 21/75

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-265568
  
• 特開昭62-228935