画像検査装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：草野卓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991236617
Publication number (International publication number)：1993073686
Application date： Sep. 17, 1991
Publication date： Mar. 26, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】画像検査のため、2つの二値画像の照合を高速に行い、登録情報のメモリ量も小さくする。【構成】二値画像の第1画像と第2画像の照合を行う画像検査装置1で、黒画素の集合を線として扱い、第1画像の線幅を、元の線幅未満の線幅指定値の細め処理手段で処理した第1変更画像の個々の黒画素アドレスの登録情報をメモリ6に格納し、第2画像を画像メモリ4に格納し、第1画像と第2画像の照合では、第1画像の登録情報と、第2画像を線幅指定値の細め処理手段で処理した第2変更画像の個々の黒画素アドレスとの照合処理手段により、第1画像と第2画像の一致性を処理装置5で判定する。照合処理手段では、画像情報移動量の途中放棄、途中決定、画像情報移動量の2段階制御を行って、処理量の削減を図り、不一致部分の黒画素数の検査で、認識率の向上を図る。位置合わせの部分画像の分離設定で、認識精度の減少なく、処理量とメモリ量の削減を図る。

Claim (excerpt)：

黒画素と白画素を画像の画素の構成要素とする二値画像の2つの画像を第1画像と第2画像とし、両画像の位置合わせ後に一致性を調べる照合処理手段を備え、一方の画像を任意の変換により移動後の画像情報のパターンとする手段により移動して、それら2つの画像の照合を行うことを1つ以上のパターンについて行う場合に、個々のパターンについて照合の途中で途中までの一致の度合いを計算する手段を備え、該一致の度合いが途中放棄の規定範囲のときは該パターンについての以後の処理は実行しないことを特徴とする画像検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開平3-208185
特開平1-195584
特開平2-240781

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