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J-GLOBAL ID:200903025835972745

磁気ヘッドの特性測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高橋 光男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998187216
Publication number (International publication number):2000020929
Application date: Jul. 02, 1998
Publication date: Jan. 21, 2000
Summary:
【要約】【課題】 磁気ヘッドの磁気的特性を詳細に測定する磁気ヘッドの特性測定装置を提供する。【解決手段】 磁気ヘッドの特性測定装置20は、先端に磁性材を有し、先端を磁気ヘッドの被測定面から一定の高さにして、被測定面上を一定の振動数で振動しつつ走査する探針2と、探針2の走査時に磁気ヘッド1から検出される電気信号を受信し、探針2の振動数の1倍又は2倍の振動数の信号成分を抽出信号として抽出する信号処理装置22と、抽出信号を出力する出力装置とを備えている。信号処理装置22は、抽出信号を演算処理する演算処理部24を有し、演算処理部24は、抽出信号と探針の振動との位相差を算出する。これにより、磁気ヘッドの動作を示す情報を詳細に得ることができる。
Claim (excerpt):
少なくとも先端に磁性材を有し、先端を磁気ヘッドの被測定面から一定の高さにして、被測定面上を一定の振動数で振動しつつ走査する探針と、探針の走査時に磁気ヘッドから検出される電気信号を受信し、探針の振動数の1倍又は2倍の振動数の信号成分を抽出信号として抽出する信号処理装置と、抽出信号を出力する出力装置とを備えていることを特徴とする磁気ヘッドの特性測定装置。

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