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J-GLOBAL ID:200903025847052927
濁度の測定方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
谷 義一 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998058501
Publication number (International publication number):1998311784
Application date: Mar. 10, 1998
Publication date: Nov. 24, 1998
Summary:
【要約】【課題】 従来の濁度計では困難であった低濁度における濁度測定を実現すること。【解決手段】 試料水に光ビームを照射し、試料水中の微粒子によって散乱される光を光電変換素子で光電変換し、前記光ビーム中を前記微粒子が通過する度に前記光電変換によって得られる単位時間内の各パルス信号を入力信号7として入力し、ピークホールド回路13でその波高値を測定し、この測定値に基づいて、粒径区分ごとの試料水中の微粒子の個数濃度を求め、該各個数濃度に対して粒径区分ごとに個別の係数を乗じて試料水の濁度を求める。
Claim (excerpt):
試料水に光ビームを照射し、試料水中の微粒子によって散乱される光を光電変換手段で光電変換し、前記光ビーム中を前記微粒子が通過する度に前記光電変換によって得られるパルス信号に基づいて、粒径区分ごとの試料水中の微粒子の個数濃度を求め、該各個数濃度に対して粒径区分ごとに個別の係数を乗じて試料水の濁度を求めることを特徴とする濁度の測定方法。
IPC (2):
FI (3):
G01N 15/06 C
, G01N 15/06 E
, G01N 21/53 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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粒子分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-275422
Applicant:東亜医用電子株式会社
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特開平4-366750
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コロイド状物質を含む溶媒の色度、濁度の測定方法と その装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-187970
Applicant:富士電機株式会社
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