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J-GLOBAL ID：200903026032773316

光スイッチングノード性能監視方法および装置

Inventor： モハマド ティー.ファテヒ ,  フレッド ルドウィッグ ヒースマン
Applicant, Patent owner： アメリカン テレフォン アンド テレグラフ カムパニー
Agent (1)： 三俣 弘文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993197683
Publication number (International publication number)：1994232721
Application date： Jul. 16, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：

【要約】【目的】 光ネットワーク内でスイッチングノード制御パラメータの監視および調節が可能なオンライン技術を実現する。【構成】 最適制御電圧レベルであると仮定されるレベル付近でスイッチまたはサブシステム内のノードに加えられる制御電圧を変化させることによってそのノードを通過する光信号に低周波変調を誘導し、誘導低周波変調の振幅、周波数、および位相特性を確認するためにそのノードから下流の位置でその光信号を分析し、これらの特性に基づいて、最適と仮定された制御電圧が実際にノードの正確な動作を保証する正確なレベルであるか否かを判定する。誘導低周波変調の振幅は、光信号によって運搬される主要な情報およびデータの伝送を妨害しないように低レベルに維持される。変調された信号の振幅、周波数、および位相の分析は、ネットワーク内の単一の固定位置で実行される。

Claim (excerpt)：

制御パラメータに応答してアナログスイッチング特性を示す光スイッチングノードの性能を監視する方法において、光信号は光路を介して前記スイッチングノードを通って伝送され、前記スイッチングノードにおいて、信号源で発生された電気信号に応答して、前記光信号の振幅を変調するステップと、前記変調された光信号の振幅、周波数および位相特性を検出するために固定位置で前記光路を監視するステップと、前記検出された振幅、周波数および位相特性の関数として前記スイッチングノードの性能を評価するステップとからなることを特徴とする光スイッチングノード性能監視方法。

IPC (4)：

H03K 17/78 ,  H04B 10/02 ,  H04B 10/08 ,  H04Q 3/52

FI (2)：

H04B 9/00 T ,  H04B 9/00 K