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J-GLOBAL ID：200903026056110954

検査びん加熱用ブロック並びにその検査びん加熱用ブロックを用いた培養装置並びに培養方法

Inventor： 喜多 正治 ,  松井 継男 ,  小田 洋之 ,  常国 美穂
Applicant, Patent owner： サンスター株式会社
Agent (1)： 藤原 忠義 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993084121
Publication number (International publication number)：1994261739
Application date： Mar. 17, 1993
Publication date： Sep. 20, 1994
Summary：

【要約】【目的】 室内の温度が変動しても、検査びん内の温度を一定に保つことができるものである。【構成】 検査びん11を挿入するための支持孔12を有する金属製の蓄熱部材5の少なくとも加熱手段3側の対面に断熱部材6を設けてなるものである。

Claim (excerpt)：

検査びんを挿入するための支持孔を有する金属製の蓄熱部材の少なくとも加熱手段側の対面に断熱部材を設けてなる検査びん加熱用ブロック。

IPC (3)：

C12M 1/00 ,  C12M 1/02 ,  C12N 1/00