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J-GLOBAL ID：200903026089653139

過渡回折格子分光法

Inventor： 玉井 尚登 ,  伊東 孝之 ,  朝日 剛 ,  増原 宏
Applicant, Patent owner： 新技術事業団 ,  伊東 孝之
Agent (1)： 西澤 利夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992325747
Publication number (International publication number)：1994174640
Application date： Dec. 04, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【構成】 回折格子分光法において、プローブ光をピコ秒の領域では白色光を用い、マイクロ秒の領域では単色光を用いることにより、経過時間における光化学反応過程における反応中間体のスペクトル情報を得る。【効果】 薄膜や界面層等においても、高精度で時間経過に対して、光化学反応過程を解析することが可能となる。

Claim (excerpt)：

複数の励起光を同時に試料に照射して干渉縞を発生させ、この干渉縞に対して白色プローブ光を照射し、プローブ光の回折光強度から試料の反応中間体のスペクトル情報を得ることを特徴とする過渡回折格子分光法。

IPC (2)：

G01N 21/75 ,  G01N 21/63

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭64-059018
  
• 特開平4-143638
  

Cited by examiner (3)

• 特開昭64-059018
  
• 特開昭64-059018
  
• 特開平4-143638