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J-GLOBAL ID:200903026113475484

半導体基板の洗浄液

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991346563
Publication number (International publication number):1993182944
Application date: Dec. 27, 1991
Publication date: Jul. 23, 1993
Summary:
【要約】【目的】 半導体基板を過酸化水素系洗浄液で洗浄する際の金属不純物の基板表面への付着を防止する。【構成】 水溶性有機スルホン酸またはその塩を含有させた酸性または塩基製の過酸化水素水溶液からなる半導体基板洗浄液。【効果】 洗浄液が金属不純物で汚染されても基板表面への金属不純物の付着がなく安定して洗浄を行うことができ半導体素子の特性を損なうことがない。
Claim (excerpt):
水溶性の有機スルホン酸を含有させた酸性もしくは塩基性の過酸化水素半導体基板洗浄液。
IPC (2):
H01L 21/304 341 ,  C23G 1/02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開平3-053083

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