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J-GLOBAL ID：200903026147202029
非破壊検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 祐介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997221084
Publication number (International publication number)：1999051879
Application date： Jul. 31, 1997
Publication date： Feb. 26, 1999
Summary：
【要約】【課題】 簡単・コンパクトな機構で高速に断層像を得て検査を効率化する。【解決手段】 基台40上で揺動基板21、31を連動して所定角度範囲で揺動させることにより、X線管装置10からX線照射される被検査体20およびその透過X線が入射するX線面センサ30を同じ角度だけ同期回転させ、その揺動中の画像をX線面センサ30で蓄積し、揺動の1往復で蓄積された画像データを画像処理装置32で処理した後画像表示装置33に送って表示する。
Claim (excerpt)：
固定された放射線発生手段と、回転する被検査体保持手段と、該回転に対応して同一角度回転し、その回転中の画像を蓄積する放射線像撮像手段とを備えることを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 23/04
, G03B 42/02 Z
