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J-GLOBAL ID：200903026233398122

粒子の分離方法及び装置

Inventor： 今坂 藤太郎 ,  宮崎 健 ,  大西 敏一 ,  井阪 和夫
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993169199
Publication number (International publication number)：1995024311
Application date： Jul. 08, 1993
Publication date： Jan. 27, 1995
Summary：

【要約】【目的】 簡単な手法で高い分別性能が得られる方法の提供。【構成】 フローセル1内に流路2を形成して、ここに複数種の粒子が混在する分散媒を流す。この流路に対してストライプ状の干渉縞を形成する干渉光3を照射する。移動する粒子は干渉縞の1本1本を通過する毎に光勾配力によって制動力を受けるが、その際、サイズの小さい(あるいは屈折率が小さい)粒子よりもサイズの大きな(あるいは屈折率が大きい)粒子に、より大きな制動力が作用する。これにより作用する制動力の小さい粒子ほど照射位置を早く通過し、制動力の小さい粒子から大きな粒子の順に分別されて流れる。

Claim (excerpt)：

移動する粒子に対して干渉縞を形成する干渉光を照射することにより、粒子の種類に応じた作用力を与えて粒子の分別を行なうことを特徴とする粒子の分別方法。

IPC (2)：

B01J 19/12 ,  B01D 43/00