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J-GLOBAL ID:200903026276547180
半導体メモリカード検査システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
岡田 和秀
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002015593
Publication number (International publication number):2003216509
Application date: Jan. 24, 2002
Publication date: Jul. 31, 2003
Summary:
【要約】【課題】 複数の半導体メモリカードに対する検査を効率的に行う。【解決手段】 被検メモリカードへのデータ書き込み・検査を行う検査手段104と、システム全体の制御を行う第1演算手段101と、予めシステムの設定情報・書込みデータを記憶し、検査結果を保存する第1記憶手段102と、検査状態・結果の表示を行う表示手段103と、検査手段104の制御を行う第2演算手段105と、第2演算手段105と第1演算手段101との情報の交換、データ記憶に使用する第2記憶手段106に加え、複数の被検メモリカード111,112,113とのインタフェースおよびカードアクセスのための認証動作機能等を有する書込み手段108,109,110と、第2演算手段105の制御に基づいて所定の書込み手段への経路を選択する第1信号切換手段107とを備え、第2演算手段105の制御により複数の被検メモリカードを並列に検査する。
Claim (excerpt):
被検メモリカードに対してデータ書き込みおよび検査を行う検査手段と、システム全体の制御を行う第1演算手段と、予めシステムの設定情報および書込みデータ等を記憶しておくとともに、検査結果を保存する第1記憶手段と、検査状態および結果の表示を行う表示手段と、前記検査手段の制御を行う第2演算手段と、前記第2演算手段と前記第1演算手段との情報の交換、データ記憶に使用する第2記憶手段とを備えた半導体メモリカード検査システムにおいて、前記被検メモリカードの複数とのインタフェースおよびカードアクセスのための認証動作機能等を有する書込み手段を備え、前記書込み手段が前記第2演算手段によって制御され、前記複数の被検メモリカードの検査/データ書込みを行うことを特徴とする半導体メモリカード検査システム。
IPC (4):
G06F 12/16 330
, G06F 11/22 310
, G06F 12/14 320
, G06K 17/00
FI (4):
G06F 12/16 330 A
, G06F 11/22 310 V
, G06F 12/14 320 A
, G06K 17/00 B
F-Term (17):
5B017AA01
, 5B017BB09
, 5B017CA14
, 5B018GA03
, 5B018JA04
, 5B018JA12
, 5B018KA01
, 5B018MA24
, 5B018QA13
, 5B048AA19
, 5B048CC07
, 5B058CA13
, 5B058KA01
, 5B058KA04
, 5B058KA06
, 5B058KA22
, 5B058YA20
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