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J-GLOBAL ID：200903026276547180

半導体メモリカード検査システム

Inventor： 樋口 晃
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002015593
Publication number (International publication number)：2003216509
Application date： Jan. 24, 2002
Publication date： Jul. 31, 2003
Summary：

【要約】【課題】 複数の半導体メモリカードに対する検査を効率的に行う。【解決手段】 被検メモリカードへのデータ書き込み・検査を行う検査手段104と、システム全体の制御を行う第1演算手段101と、予めシステムの設定情報・書込みデータを記憶し、検査結果を保存する第1記憶手段102と、検査状態・結果の表示を行う表示手段103と、検査手段104の制御を行う第2演算手段105と、第2演算手段105と第1演算手段101との情報の交換、データ記憶に使用する第2記憶手段106に加え、複数の被検メモリカード111,112,113とのインタフェースおよびカードアクセスのための認証動作機能等を有する書込み手段108,109,110と、第2演算手段105の制御に基づいて所定の書込み手段への経路を選択する第1信号切換手段107とを備え、第2演算手段105の制御により複数の被検メモリカードを並列に検査する。

Claim (excerpt)：

被検メモリカードに対してデータ書き込みおよび検査を行う検査手段と、システム全体の制御を行う第1演算手段と、予めシステムの設定情報および書込みデータ等を記憶しておくとともに、検査結果を保存する第1記憶手段と、検査状態および結果の表示を行う表示手段と、前記検査手段の制御を行う第2演算手段と、前記第2演算手段と前記第1演算手段との情報の交換、データ記憶に使用する第2記憶手段とを備えた半導体メモリカード検査システムにおいて、前記被検メモリカードの複数とのインタフェースおよびカードアクセスのための認証動作機能等を有する書込み手段を備え、前記書込み手段が前記第2演算手段によって制御され、前記複数の被検メモリカードの検査/データ書込みを行うことを特徴とする半導体メモリカード検査システム。

IPC (4)：

G06F 12/16 330 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 12/14 320 ,  G06K 17/00

FI (4)：

G06F 12/16 330 A ,  G06F 11/22 310 V ,  G06F 12/14 320 A ,  G06K 17/00 B

F-Term (17)：

5B017AA01 ,  5B017BB09 ,  5B017CA14 ,  5B018GA03 ,  5B018JA04 ,  5B018JA12 ,  5B018KA01 ,  5B018MA24 ,  5B018QA13 ,  5B048AA19 ,  5B048CC07 ,  5B058CA13 ,  5B058KA01 ,  5B058KA04 ,  5B058KA06 ,  5B058KA22 ,  5B058YA20