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J-GLOBAL ID：200903026290813748

断層像処理方法、生体磁場測定方法、生体磁場測定結果表示方法およびこれらの装置

Inventor： 上田 智章
Applicant, Patent owner： ダイキン工業株式会社
Agent (1)： 津川 友士
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992235534
Publication number (International publication number)：1994028455
Application date： Sep. 03, 1992
Publication date： Feb. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】 断層像に基づいてソリッドモデルを得る。【構成】 所定間隔毎の断層像に基づいて補間演算を行なって補間断層像を得、断層像または補間断層像に対応させて小立方体を生成し、各小立方体に含まれる画素数を計数して、計数値が閾値よりも大きい場合にのみ小立方体を表示立方体に割り当て、表示立方体に割当てられた小立方体のみを可視的に表示する。

Claim (excerpt)：

所定間隔毎の断層像に基づいて補間演算を行なって立体像データを得、処理対象となる空間を所定の小立体領域に区分して各小立体領域に含まれる立体像データを計数し、計数値に基づいて小立体領域を2値化することを特徴とする断層像処理方法。

IPC (3)：

G06F 15/62 390 ,  A61B 5/055 ,  G09G 5/36