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J-GLOBAL ID：200903026332510821

故障診断方式

Inventor： 加藤 純子
Applicant, Patent owner： 日本電気株式会社
Agent (1)： 内原 晋
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991186766
Publication number (International publication number)：1993026962
Application date： Jul. 26, 1991
Publication date： Feb. 05, 1993
Summary：

【要約】【構成】論理回路の故障診断方式において、故障定義工程2によりゲートレベルでモデル化された論理回路内の素子の入力・出力に故障を定義し、診断故障シミュレーション工程にかける。モデル置換工程7では診断故障シミュレーション工程5で指摘された故障を含む素子のみトランジスタレベルのモデルに置き換える。トランジスタレベル故障定義工程9では置き換えられたトランジスタレベルのモデルに詳細に故障を定義し、第二の診断故障シミュレーション工程により故障診断を行う。【効果】シミュレーションモデルを必要に応じてトランジスタレベルに一部だけ置き換え、階層的にシミュレーションを行うことにより、精度の高い故障診断を、マシンタイムの増大を防いで行えるという効果がある。

Claim (excerpt)：

論理回路の故障診断方式において、ゲートレベルでモデル化された回路内の素子の入力・出力に故障を定義する、故障定義工程と、診断故障シミュレーション工程と、診断故障シミュレーション工程で指摘された故障を含む素子のみトランジスタレベルのモデルに置き換える、モデル置換工程と、置き換えられたトランジスタレベルのモデルに詳細に故障を定義する、トランジスタレベル故障定義工程と、第2の診断故障シミュレーション工程とを含むことを特徴とする、故障診断方式。

IPC (5)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 11/26 310 ,  G06F 15/60 360