Pat
J-GLOBAL ID：200903026338059129
放射線測定システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995055400
Publication number (International publication number)：1996248140
Application date： Mar. 15, 1995
Publication date： Sep. 27, 1996
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、シンチレータ検出器の数に対応する数の光電変換回路を必要とせずに価格の低廉化を図り、校正作業の手間を低減でき、測定の連続性を確保させる。【構成】 各光ディレイライン(19a1〜19b2)が夫々の光を遅延させて互いに異なるタイミングにて光電変換回路(13a,13b)へ与える一方、各遅延回路(16a1〜16b2)が光電変換回路の出力を遅延させて同一のタイミングにて同時計数回路(17a,17b)に与える測定系を有し、さらに、各シンチレータ検出器(11a,11b)を個別に接続可能とし、接続されたシンチレータ検出器から出力される光を個別に伝送する複数の校正用光ファイバ(14)と、各校正用光ファイバにて伝送される光を個別に遅延させて光電変換回路に送出する複数の校正用光ディレイライン(19)とを備えた放射線測定システム。
Claim (excerpt)：
両端部を有し、放射線エネルギに対応して光を生成してこの光を前記両端部から出力する複数のシンチレータ検出器と、前記各シンチレータ検出器から出力される光を個別に伝送する複数の測定用光ファイバと、前記各測定用光ファイバにて伝送される光を個別に遅延させて送出する複数の光ディレイラインと、前記各光ディレイラインから送出された光を個別に光電変換して電気信号を生成し、この電気信号を送出する複数の光電変換回路と、前記各光電変換回路から送出された電気信号を、同一のシンチレータ検出器に関して前記遅延された時間を相殺するように個別に遅延させて送出する複数の遅延回路と、前記各遅延回路から送出される電気信号を同時に受けたとき、計数出力信号を送出する複数の同時計数回路と、前記各同時計数回路から送出される計数出力信号に基づいて、前記放射線エネルギの指示信号を出力する信号処理回路とを有し、前記各シンチレータ検出器を個別に接続可能とし、前記接続されたシンチレータ検出器から出力される光を個別に伝送する複数の校正用光ファイバと、前記各校正用光ファイバにて伝送される光を個別に遅延させて前記光電変換回路に送出する複数の校正用光ディレイラインとを備えたことを特徴とする放射線測定システム。
IPC (2)：
FI (3)：
G01T 1/20 A
, G01T 1/20 J
, G01T 1/208
Cited by examiner (5)
Show all
Return to Previous Page
