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J-GLOBAL ID：200903026346313530

企業リスク診断支援装置

Inventor： 寺 崎 健 ,  後 藤 公 一 ,  新 井 朗 ,  三 室 克 哉
Applicant, Patent owner： 株式会社野村総合研究所
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995268833
Publication number (International publication number)：1997114801
Application date： Oct. 17, 1995
Publication date： May. 02, 1997
Summary：

【要約】【課題】 定量的に企業のリスクを算出・表示でき、集中的な画面表示によって企業のリスク診断を行え、さらに顧客が保険を要望した場合に即時に保険引受の判断を行う企業リスク診断支援装置を提供する。【解決手段】 企業情報を入力する企業情報入力手段2と、企業情報の特徴を抽出し、リスク洗い出し知識ベース13を用いて企業のリスクを特定するリスク洗い出し手段3と、リスク発生頻度知識ベース14と、リスク影響度知識ベース15とによって各リスクの発生頻度および影響度を評価するリスク発生頻度/影響度評価手段4と、リスクヘッジ状況評価知識ベース16を用いてリスクヘッジ状況を評価するリスクヘッジ状況評価手段5と、リスク対策知識ベース17を用いてリスク対策を特定するリスク対策特定手段6と、リスクデータ、リスクの発生頻度/影響度、リスクヘッジ状況、リスク対策を出力するプレゼンテーション手段7と、を備えた。

Claim (excerpt)：

リスク診断を行う対象の企業の業種、規模を含む属性情報と、財務情報と、既加入保険情報と含む企業情報を入力する企業情報入力手段と、前記企業情報を解析してその特徴を抽出し、企業情報の特徴と予想されるリスクの対応ルールからなるリスク洗い出し知識ベースを参照することにより、診断対象の企業のリスクを記述したリスクデータを生成するリスク洗い出し手段と、企業情報の特徴と企業に生じる種々のリスクの発生頻度の対応ルールからなるリスク発生頻度知識ベースと、所定のリスクが現実化した場合の企業に対する影響度を判断するルールからなるリスク影響度知識ベースとを参照し、前記リスクデータ中の各リスクについてそれぞれの発生頻度および影響度とを評価するリスク発生頻度/影響度評価手段と、前記企業情報の既加入保険情報と、前記リスク発生頻度/影響度評価手段の評価結果から、所定の保険によって企業のリスクが軽減される度合いを記述したルールからなるリスクヘッジ状況評価知識ベースを参照し、診断対象企業のリスクヘッジの状況を評価するリスクヘッジ状況評価手段と、前記リスクヘッジ状況評価手段による評価結果を参照し、企業のリスクに対する対策を判断するルールからなるリスク対策知識ベースを参照して診断対象企業のリスク対策を特定するリスク対策特定手段と、前記リスクデータ、リスクの発生頻度/影響度、リスクヘッジ状況、リスク対策の少なくとも一つを出力するプレゼンテーション手段と、を備えていることを特徴とする企業リスク診断支援装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 高圧電力機器の異常診断システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-158356   Applicant：株式会社日立製作所