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J-GLOBAL ID：200903026376220588

複屈折測定装置

Inventor： 佐藤 洋一
Applicant, Patent owner： 積水化学工業株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994286401
Publication number (International publication number)：1996145878
Application date： Nov. 21, 1994
Publication date： Jun. 07, 1996
Summary：

【要約】【目的】 複屈折フィルムの一点の複屈折値を測定することができ、しかも照明装置の照度変化の影響を受けずに安定して複屈折値を測定すること。【構成】 単一波長の光を発生する照明手段1からの光を2以上の複数の光束に分割する光束分割手段5と、光束分割手段5により分割された一つの光束を直接受光する第一の受光手段7と、被検物Fを挟んで偏光方向を平行もしくは直交ニコル状態に対向配置された第一の偏光子10a〜10cおよび第二の偏光子11a〜11cと、光束分割手段5により分割された他の光束を第一の偏光子10a〜10cと被検物Fと第二の偏光子11a〜11とを透過した光束として受光する第二の受光手段14a〜14cと、第一の受光手段7で受光した透過光量と第二の受光手段14a〜14cで受光した透過光量との光量比を算出し、複屈折値が既知の試材の光量比計測によって予め設定された光量比と複屈折値との相関関係より前記光量比をパラメータとして被検物Fの複屈折値を導出する演算手段9とを設ける。

Claim (excerpt)：

単一波長の光を発生する照明手段と、前記照明手段からの光を2以上の複数の光束に分割する光束分割手段と、前記光束分割手段により分割された一つの光束を直接受光する第一の受光手段と、被検物を挟んで偏光方向を平行もしくは直交ニコル状態に対向配置された第一の偏光子および第二の偏光子と、前記光束分割手段により分割された他の光束を前記第一の偏光子と前記被検物と前記第二の偏光子とを透過した光束として受光する第二の受光手段と、前記第一の受光手段で受光した光量と前記第二の受光手段で受光した透過光量との光量比を算出し、複屈折値が既知の試材の光量比計測によって予め設定された光量比と複屈折値との相関関係より前記光量比をパラメータとして前記被検物の複屈折値を導出する演算手段と、を有していることを特徴とする複屈折測定装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平2-205754
  
• 特開昭61-215927
  
• 複屈折測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-155466   Applicant：神崎製紙株式会社
• 特開平2-205754
  
• 特開昭61-215927