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J-GLOBAL ID:200903026392707748

光測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997000735
Publication number (International publication number):1998197449
Application date: Jan. 07, 1997
Publication date: Jul. 31, 1998
Summary:
【要約】【課題】 サンプルと試薬とが短時間で相互作用を起こす場合でもサンプルの蛍光又は吸光度の経時変化を迅速に測定することができる光測定装置を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明の光測定装置1は、透明なマイクロプレート4の複数のウェル5内の各サンプルSに、このサンプルSと相互作用を起こす試薬を注入し、各サンプルSからの蛍光又は透過光の経時変化を測定するもので、マイクロプレート4のウェル形成面4a側からマイクロプレート4の各サンプルSに試薬を一括に供給する試薬供給手段6,7、マイクロプレート4の各サンプルSを所定波長の光で照明する照明手段28,31、マイクロプレート4のウェル形成面4aに対向する対向面4bを撮像すると共に各サンプルSからの蛍光又は透過光を選択的に通過させる撮像手段23,50を備えることを特徴とする。
Claim (excerpt):
透明なマイクロプレートの複数のウェル内に注入した各サンプルに、このサンプルと相互作用を起こす試薬を注入し、前記各サンプルから出射される蛍光又は透過光の経時変化を測定する光測定装置において、前記マイクロプレートの前記ウェルが形成されるウェル形成面側から前記マイクロプレートの各サンプルに前記試薬を一括に供給する試薬供給手段と、前記マイクロプレートの前記各サンプルを照明する照明手段と、前記マイクロプレートの前記ウェル形成面に対向するウェル対向面を撮像すると共に前記各サンプルからの蛍光又は透過光を選択的に通過させる撮像手段と、を備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (3):
G01N 21/75 ,  G01N 21/64 ,  G01N 35/10
FI (3):
G01N 21/75 Z ,  G01N 21/64 Z ,  G01N 35/06 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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