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J-GLOBAL ID：200903026440873329

測定検査工程におけるデータの管理装置

Inventor： 坂田 俊一
Applicant, Patent owner： 財団法人熊本テクノポリス財団
Agent (1)： 藤島 洋一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994281242
Publication number (International publication number)：1996123510
Application date： Oct. 20, 1994
Publication date： May. 17, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測定検査工程における作業を合理化することができるようにする。【構成】 製品別データ格納部14は、オフライン教示部19、実測定処理部20、測定結果評価演算部21および評価結果表示部22における各処理で必要なCAD図面データ、測定教示データ、測定結果データおよび評価結果データを格納する。データ管理部13は、製品別データ格納部14に格納されるデータを製品別に管理すると共に、製品別に作業進捗状況を管理する。マンマシンインタフェース部11は、データ管理部13によって管理される作業進捗状況に応じて、オフライン教示部19、実測定処理部20、測定結果評価演算部21および評価結果表示部22の各処理を選択的に起動可能とする。プログラム起動部24は、各処理を起動する。

Claim (excerpt)：

測定対象製品の図面データに基づいて、測定機を制御するための測定教示データを生成するオフライン教示部と、前記測定教示データに基づいて測定機を稼働させ、測定機より測定結果データを取得する実測定処理部と、前記測定結果データに対して評価演算を行い評価結果データを生成する測定結果評価演算部と、前記評価結果データに基づいて評価結果を表示する評価結果表示部とを備え、測定機に対してオフラインで教示を行うと共に、測定機を用いて測定、検査を行う測定検査システムに用いられる装置であって、前記図面データ、測定教示データ、測定結果データおよび評価結果データを記憶するための記憶手段と、この記憶手段に記憶される各データを測定対象製品別に管理する製品別データ管理手段と、この製品別データ管理手段によって管理されるデータに基づいて、指定された図面データに関連する作成済みの測定教示データ、測定結果データおよび評価結果データを抽出することによって、測定対象製品別に測定検査工程の作業進捗状況を管理する製品別作業進捗状況管理手段とを具備することを特徴とする測定検査工程におけるデータの管理装置。

IPC (2)：

G05B 19/02 ,  G06F 17/50

FI (2)：

G06F 15/60 608 A ,  G06F 15/60 680 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 寸法検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-080035   Applicant：山形カシオ株式会社, カシオ計算機株式会社
• 特開昭59-206245