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J-GLOBAL ID:200903026513706566

複雑面形状物体の欠陥検査方法及びその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小泉 雅裕 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992194953
Publication number (International publication number):1994018486
Application date: Jun. 29, 1992
Publication date: Jan. 25, 1994
Summary:
【要約】【構成】 超音波が出射され且つ反射超音波が検出される超音波探傷手段2を複雑面形状の被検査物1の面形状に沿って相対的に追従移動させ、被検査物1面の法線方向zに対し斜め方向で且つ被検査物1のエッジ部1aに対し非直交する方向から被検査物1内に超音波探傷手段2からの超音波を順次入射させ、超音波探傷手段2に向かう超音波の有無を検出することにより、被検査物1の欠陥の有無を検査する。【効果】 簡単なシステムで、複雑面形状物体の欠陥検査を短時間で且つエッジ近傍付近まで正確に実現できる。
Claim (excerpt):
超音波が出射され且つ反射超音波が検出される超音波探傷子(2)を複雑面形状の被検査物(1)の面形状に沿って相対的に追従移動させ、被検査物(1)面の法線方向(z)に対し斜め方向で且つ被検査物(1)のエッジ部(1a)に対し非直交する方向から被検査物(1)内に超音波探傷子(2)からの超音波を順次入射させ、欠陥から反射し超音波探傷子(2)に向かう超音波の有無を検出することにより、被検査物(1)の欠陥の有無を検査することを特徴とする複雑面形状物体の欠陥検査方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭62-108152
  • 特開昭62-108152

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