Pat
J-GLOBAL ID:200903026640669343

状態解析装置及び状態解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 宮川 貞二 ,  東野 博文 ,  内藤 忠雄 ,  柴田 茂夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003406537
Publication number (International publication number):2005160876
Application date: Dec. 04, 2003
Publication date: Jun. 23, 2005
Summary:
【課題】 対象物の呼吸の状態を正確に解析できる状態解析装置を提供する。【解決手段】 第1の所定期間の対象物2状態を示す測定データに基づいて、対象物2の体動を判定し、さらに前記測定データ中から前記体動を示すデータの存在する期間を検出する体動期間検出手段22と、前記第1の所定期間内の注目時点を含む又は前記注目時点に隣接する第1の所定期間より短い期間の第2の所定期間内の測定データから、前記第2の所定期間と前記検出された期間が重なる場合には、前記検出された期間の測定データを除いた残りの測定データに基づいて基準値を算出する基準値計算手段23と、前記注目時点の測定データと前記基準値を比較し、前記比較結果に基づいて、前記注目時点での前記対象物の低呼吸と無呼吸の両方又はいずれか一方を判定する呼吸判定手段24とを備える状態解析装置1とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
第1の所定期間の対象物の状態を示す測定データに基づいて、前記対象物の体動を判定し、さらに前記測定データ中から前記体動を示すデータの存在する期間を検出する体動期間検出手段と; 前記第1の所定期間内の注目時点を含む又は前記注目時点に隣接する第1の所定期間より短い期間の第2の所定期間内の測定データから、前記第2の所定期間と前記検出された期間が重なる場合には、前記検出された期間の測定データを除いた残りの測定データに基づいて基準値を算出する基準値計算手段と; 前記注目時点の測定データと前記基準値を比較し、前記比較結果に基づいて、前記注目時点での前記対象物の低呼吸と無呼吸の両方又はいずれか一方を判定する呼吸判定手段とを備えた; 状態解析装置。
IPC (2):
A61B5/08 ,  A61B5/11
FI (2):
A61B5/08 ,  A61B5/10 310A
F-Term (8):
4C038SS08 ,  4C038SS09 ,  4C038SU00 ,  4C038SV01 ,  4C038VA04 ,  4C038VB31 ,  4C038VC02 ,  4C038VC05
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 監視装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-372820   Applicant:学校法人慶應義塾, 住友大阪セメント株式会社

Return to Previous Page