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J-GLOBAL ID：200903026641884213

透過・反射光測定システム用試料セル

Inventor： 駒崎 雄一
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社
Agent (1)： 大橋 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993008747
Publication number (International publication number)：1994221991
Application date： Jan. 22, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：

【要約】【目的】 試料セルにおいて、S/N比の向上とマトリックスの影響を軽減したい。【構成】 試料セル21の表面にオプティカルチョッパー機能を有す羽根板22を取り付けると共に試料セル21をモーター23により回転する。

Claim (excerpt)：

セル本体の表面にオプティカルチョッパー機能を有する羽根板を取り付けると共にこのセル本体をモーター駆動により回転するように構成して成る透過・反射光測定システム用試料セル。