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J-GLOBAL ID:200903026645813884

半導体レーザジャイロ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 吉田 精孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999228230
Publication number (International publication number):2001050753
Application date: Aug. 12, 1999
Publication date: Feb. 23, 2001
Summary:
【要約】【課題】 測定精度を犠牲にすることなく、小型化を可能とする半導体レーザジャイロを提供すること。【解決手段】 半導体基板21上にサイズの異なる複数の周回光路(導波路)によって構成された多重周回リング共振器22を形成し、該共振器22上に設けられたキャリア注入電極23に電圧を印加することによってレーザ発振させ、右回りと左回りの発振モードの周波数差を、電圧検出用端子24から電圧の変化としてもしくはビーム合波プリズム25及び受光器26から求めることにより、外部から加わる回転角速度を計測する。
Claim (excerpt):
リング共振器を有する半導体レーザ、もしくはリング共振器内に配置された半導体レーザ、もしくはリング共振器内に配置された半導体光増幅器を備えた半導体レーザジャイロであって、リング共振器を、サイズの異なる複数の周回光路(導波路)によって構成することを特徴とする半導体レーザジャイロ。
IPC (2):
G01C 19/66 ,  H01S 5/14
FI (2):
G01C 19/66 ,  H01S 5/14
F-Term (7):
2F105BB04 ,  2F105BB13 ,  2F105DD07 ,  2F105DE23 ,  2F105DF10 ,  5F073AA66 ,  5F073BA09
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
  • 特開平4-174317
  • 光ジヤイロスコープの光リング共振器
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平3-187611   Applicant:日本航空電子工業株式会社
  • 光導波路とリング干渉計
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-269245   Applicant:住友電気工業株式会社
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