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J-GLOBAL ID：200903026659718345

検眼装置

Inventor： 藤枝 正直
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997190690
Publication number (International publication number)：1999019040
Application date： Jun. 30, 1997
Publication date： Jan. 26, 1999
Summary：

【要約】【課題】 検眼不良の発生を少なくして、できるだけ精度の良い結果を得る。【解決手段】 被検眼の瞳孔を通して眼内に光束を投射しその反射光により被検眼の測定又は検査する検眼手段と、被検眼に対して前記検眼手段を相対移動する移動手段と、被検眼角膜にアライメント用指標を投影する指標投影手段と、該指標像を検出する指標検出手段と、前眼部像を撮像する撮像手段と、該撮像手段からの信号により瞳孔位置を検出する瞳孔位置検出手段と、該瞳孔位置検出手段による瞳孔位置情報と前記指標投影手段により検出された指標像に基づきアライメントの基準点を決定する判断手段と、該判断手段により決定された基準点に基づいて前記移動手段の移動指示を行う指示手段と、を備える。

Claim (excerpt)：

被検眼の瞳孔を通して眼内に光束を投射しその反射光により被検眼の測定又は検査する検眼手段を備える検眼装置において、被検眼に対して前記検眼手段を相対移動する移動手段と、被検眼角膜にアライメント用指標を投影する指標投影手段と、該指標像を検出する指標検出手段と、前眼部像を撮像する撮像手段と、該撮像手段からの信号により瞳孔位置を検出する瞳孔位置検出手段と、該瞳孔位置検出手段による瞳孔位置情報と前記指標投影手段により検出された指標像に基づきアライメントの基準点を決定する判断手段と、該判断手段により決定された基準点に基づいて前記移動手段の移動指示を行う指示手段と、を備えることを特徴とする検眼装置。

FI (2)：

A61B 3/10 W ,  A61B 3/10 M

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 検眼装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-292098   Applicant：キヤノン株式会社
• 眼科装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-244213   Applicant：株式会社トプコン
• アライメント検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-224896   Applicant：株式会社ニデック